則試驗(yàn)電壓應(yīng)施加在固定觸頭與動(dòng)觸頭之間；若可抽出部件的主回路導(dǎo)電部分不可能被意外地觸及，則試驗(yàn)電壓應(yīng)施加在兩側(cè)的固定觸頭之間。銀川配電房如果可能，試驗(yàn)時(shí)可抽出部件的開關(guān)裝置處于合閘位置；如果該開關(guān)裝置在隔離位置不能合閘，則應(yīng)在可抽出部件處在試驗(yàn)位置、其開關(guān)裝置處于合閘位置時(shí)重復(fù)進(jìn)行該試驗(yàn)。補(bǔ)充試驗(yàn)，為了檢驗(yàn)是否符合規(guī)定的要求，應(yīng)按上述的規(guī)定，用一接地的金屬箔覆蓋于絕緣板或活門朝向帶電體的表面，銀川配電房在主回路帶電部分與絕緣隔板、活門內(nèi)表面之間進(jìn)行工頻耐壓試驗(yàn)，試驗(yàn)電壓為150%的額定電壓，時(shí)間為1min。

外觀檢查應(yīng)足以判定是否已經(jīng)保證了回路的連續(xù)性。如果對(duì)某個(gè)接地連接的連續(xù)性有懷疑，則應(yīng)從該接地連接到提供的接地點(diǎn)通以30A(DC)來驗(yàn)證，電壓降應(yīng)不超過3V。銀川配電房開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備以及試驗(yàn)回路的布置，按規(guī)定，并做如下補(bǔ)充：被試設(shè)備的布置應(yīng)能獲得最嚴(yán)酷的條件：未支撐母線的最大長(zhǎng)度、設(shè)備內(nèi)連接和導(dǎo)體的布置。在開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備包含有雙母線系統(tǒng)和/或多層設(shè)計(jì)的情況下，則試驗(yàn)應(yīng)在開關(guān)裝置處于最嚴(yán)酷的位置上進(jìn)行。銀川配電房到開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備端子連接的布置應(yīng)避免端子承受不實(shí)際的應(yīng)力或支撐。

通過試驗(yàn)的判據(jù)，按GB/T11022-1999的6.2.4的規(guī)定。但是，其中b)項(xiàng)的第段替換為：銀川配電房若滿足下列條件，則開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備通過了雷電沖擊電壓試驗(yàn)：a)非自恢復(fù)絕緣未發(fā)生破壞性放電；b)對(duì)每一個(gè)試驗(yàn)系列的15次沖擊試驗(yàn)，破壞性放電應(yīng)不超過兩次，且最后五次沖擊中破壞性放電應(yīng)不超過一次。銀川配電房如果最后五次沖擊試驗(yàn)中有次破壞性放電，則應(yīng)施加附加的五次試驗(yàn)驗(yàn)證且不應(yīng)出現(xiàn)擊穿。只要整個(gè)試驗(yàn)過程中放電總次數(shù)不超過兩次，可以重復(fù)增加五次試驗(yàn)。這會(huì)導(dǎo)致每系列試驗(yàn)的次數(shù)最多達(dá)到25次。

應(yīng)將金屬箔置于能防止觸及帶電部分的可觸及的絕緣表面上的最不利的位置，銀川配電房若難于決定何處最不利，則試驗(yàn)應(yīng)在不同的位置重復(fù)進(jìn)行金屬箔應(yīng)接近于圓形或方形，其表面積應(yīng)盡可能大，但不得超過100m2,金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備的外殼和框架應(yīng)接地。應(yīng)在干燥、潔凈的絕緣體上測(cè)量經(jīng)過金屬箔流到地的泄漏電流。銀川配電房如果測(cè)得的泄漏電流值超過0.5mA，則絕緣表面不能提供本標(biāo)準(zhǔn)所要求的防護(hù)根據(jù)規(guī)定，通過絕緣表面的電流路徑如果被小的氣隙或油腺隔斷，則這些間隙應(yīng)短接。

機(jī)械特性測(cè)量試驗(yàn)，主回路和接地回路中所裝的開關(guān)裝置在規(guī)定的操作條件下的機(jī)械特性應(yīng)符合開關(guān)裝置各自技術(shù)條件的要求。銀川配電房充氣隔室的壓力耐受試驗(yàn)和氣體狀態(tài)測(cè)量，具有壓力釋放裝置的充氣隔室的壓力耐受試驗(yàn)充氣隔室的每種設(shè)計(jì)應(yīng)按下述程序承受壓力試驗(yàn)應(yīng)將相對(duì)壓力升高到設(shè)計(jì)壓力的1.3倍并保持1min。壓力釋放裝置不應(yīng)動(dòng)作。然后將壓力升高到設(shè)計(jì)壓力的3倍。銀川配電房低于此壓力時(shí)，壓力釋放裝置可能動(dòng)作，只要符合制造廠的設(shè)計(jì)，這是可以接受的。此打開壓力釋放裝置的壓力應(yīng)記錄在型式試驗(yàn)報(bào)告中。